SCHOTT® low-loss
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Technische Daten für SCHOTT® low-loss

SCHOTT® low-loss-Glas ist ein Borosilikatglas mit herausragenden Eigenschaften, das für Hochfrequenzanwendungen optimiert wurde. Es zeichnet sich durch eine niedrige Dielektrizitätskonstante, einen minimalen dielektrischen Verlust und einen CTE aus, der auf die Halbleiterindustrie abgestimmt ist. Dadurch stellt es ein fortschrittliches Substratmaterial dar, das sich ideal für führende Technologien eignet. Es wurde entwickelt, um RF-Kommunikations- und Sensoranwendungen zu optimieren und stellt eine attraktive Alternative zu bestehenden Hochfrequenzsubstraten dar. Das derzeit als F&E-Material verfügbare Material ist im Begriff, den Bereich zu revolutionieren, da es einen breiten Dickenbereich und eine hervorragende Oberflächenqualität bietet.

Ausgezeichnete dielektrische Eigenschaften für Hochfrequenz Kommunikation und Sensorik

Niedrige Dielektrizitätskonstante

Das SCHOTT® low-loss-Glas weist mit einer Dielektrizitätskonstante (Dk) von 4,0 eine hohe Leistungsfähigkeit für Breitband-Antennendesigns auf. Es unterstützt eine effiziente Signalausbreitung und minimiert die Signalverzögerung, wodurch es sich für moderne Telekommunikations- und Radarsysteme eignet.

Geringer dielektrischer Verlust

SCHOTT® low-loss-Glas weist den geringsten dielektrischen Verlust innerhalb unserer Materialpalette auf und gewährleistet eine hocheffiziente Signalübertragung mit minimaler Dämpfung. Diese Eigenschaft ist von entscheidender Bedeutung für Hochfrequenzanwendungen, bei denen die Aufrechterhaltung der Signalintegrität von größter Bedeutung ist.

Glatte Oberfläche

Die Oberfläche des SCHOTT® low-loss-Glases ist durch eine Rauheit von Ra < 5 nm gekennzeichnet, was eine außergewöhnlich makellose Oberfläche zur Folge hat. In Kombination mit Metallisierungslösungen ermöglicht das Glas das Design von HF-Leitungen mit minimalen Streuverlusten, wodurch die Gesamtleistung in Hochfrequenzanwendungen verbessert wird.

Optimierter CTE für Halbleiter

Der Wärmeausdehnungskoeffizient (CTE) von SCHOTT® low-loss-Glas ist präzise auf den von Silizium-Wafern abgestimmt (α [10-6 K-1] = 3,29). Seine Kompatibilität gewährleistet eine nahtlose Integration mit Halbleiterkomponenten und erhöht die Stabilität und Zuverlässigkeit elektronischer Geräte.
Materialeigenschaften
General Properties
Density ρ [g/cm³] 2.14

 

Thermal properties
Thermal expansion coefficient α [10-6 K-1] 3.29
Thermal conductivity λ(25 °C) [W/(m·K)] t.b.d.
Specific heat capacity Cp(20 °C; 100 °C) [J/K]
 t.b.d.
Transformation temperature Tg [°C] 467
Strain point at 1014.5 dPas [°C] 548
Annealing point at 1013 dPas [°C]
 538 
Softening point at 107.6 dPas [°C]
 750
Working point at 104 dPas [°C]

1143

 

Electrical properties

Frequency

f [GHz]

Dielectric constant 

ε ± 0.1 / measured

Tangent delta tan δ

± 0.0005 / measured
1 4.05 0.0011
2 4.05
 0.0013
2.45 4.05
 0.0014
5 4.05 0.0017
10 4.05 0.0021
15 4.05
 0.0024
24 4.05
 0.0028
77 4.05
 0.0047
110 4.05
 0.0061
Log10 Electric volume resistivity ρ [Ω·cm]
T = 250 °C 10.7
  

T = 350 °C

 8.8
  
TK100 [°C]
 405  

 

Mechanical Properties
Young’s Modulus E [GPa] 51
Poisson’s ratio ν 0.223
Shear Modulus G [GPa]
 21
Vicker Hardness [HV]
 t.b.d.
Martens Hardness [HM]
 t.b.d.
Knoop Hardness
 t.b.d.

 

Optical properties
Photo-elastic constant C [nm/(cm MPa)] t.b.d.
Transmittance t.b.d.

 

Chemical durability of raw glass
Hydrolytic resistance acc. to DIN ISO 719  
Hydrolytic Class HGB 1
Acid resistance acc. to DIN 12116
  
Acid class
 S1W
Alkali resistance acc. to DIN ISO 695
  
Alkali class
 A3

 

Refractive Index

Graph showing the refractive index of SCHOTT® low-loss glass

Dielectric loss

Graph showing the dielectric loss of SCHOTT® low-loss glass

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